Doctorado en Microelectrónica
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Línea de investigación: Test y diseño para testabilidad de circuitos y sistemas integrados

Competencias específicas: Capacidad para comprender la problemática del testado de circuitos y sistemas integrados derivada de la complejidad y características de fabricación de dichos circuitos. Capacidad para analizar y comprender las ventajas y limitaciones de las técnicas de test existentes. Capacidad para analizar y modelar el funcionamiento de circuitos y sistemas analógicos, mixtos y de radio frecuencia con el fin de incorporar dichos modelos a la validación o definición del flujo de testado de dichos circuitos. Capacidad de abordar los retos de mejoras de las soluciones de test existentes. Capacidad de concebir e implementar soluciones originales que den respuesta a las problemáticas anteriores, ampliando las fronteras del conocimiento en esta línea de investigación. Capacidad de validar las innovaciones propuestas en aplicaciones concretas: telecomunicaciones, biomédicas, etc. Capacidad de transmitir a la comunidad científicotécnica los avances tecnológicos realizados.

Actividades formativas: La actividad formativa básica la constituye la interacción continua entre el doctorando y su director o directores, culminada en la redacción y defensa de la tesis doctoral. Asimismo, se realizan reuniones periódicas de estudiantes y profesores de la línea de investigación para la impartición de seminarios por parte de los profesores y la exposición y debate de trabajos de los estudiantes. La formación se complementa con la asistencia, como conferenciante y como oyente, a congresos nacionales e internacionales de primera línea relacionados con la línea de investigación, así como a otro tipo de reuniones científicas vinculadas a dicha línea de investigación, tales como reuniones de proyectos de investigación, talleres u otros foros en los que el grupo de investigación intervenga.

Acciones de coordinación: Reuniones periódicas del profesorado de la línea de investigación para organizar la actividad de investigación de los alumnos que desarrollen su tesis doctoral en esta línea de investigación, así como monitorizar la evolución individual. Asimismo se establecerán y actualizarán los objetivos de la línea de investigación, hacia cuya consecución se coordinarán las actividades de los estudiantes, asignando director(es) de cada nuevo estudiante y objetivos individuales.

Sistemas de evaluación y calificación: La evaluación y calificación se realizará mediante la defensa pública de la Tesis Doctoral de acuerdo a la normativa vigente de la Universidad de Sevilla.

Breve descripción de los contenidos: Conceptos, terminología y fundamentos del test y del diseño para test. Variabilidad y defectos en circuitos y sistemas integrados. Técnicas de caracterización de circuitos integrados analógicos y mixtos. Generación y evaluación de experimentos de test. Técnicas de adquisición y tratamiento de señal. Test funcional y test estructural. Técnicas de Diseño para Testabilidad (DfT). Técnicas de BIST (Built-in self test).  Problemática del test en SoCs (System on chips) y en nuevos sistemas implementados con tecnologías emergentes.

 

Verificado por la Comisión de Verificación de Planes de Estudio del Consejo de Universidades el 30 de junio de 2010